行業(yè)知識(shí)

掃描電鏡的介紹

　　掃描電子顯微鏡（SEM）是一種通過(guò)用聚焦電子束掃描表面產(chǎn)生樣品的圖像的電子顯微鏡。電子與樣品中的原子相互作用，產(chǎn)生包含樣品表面形貌和組成信息的各種信號(hào)。以光柵掃描圖案掃描電子束，并將光束的位置與檢測(cè)到的信號(hào)組合以產(chǎn)生圖像。 SEM可以達(dá)到1納米以上的分辨率，已經(jīng)并廣泛用于材料分析和失效分析領(lǐng)域。以下是勝科納米分析中心的SEM介紹：